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时间:2015-05-15 来源:电信学院 作者:王琼

电信学院“大师面对面”活动成功举办
 
 
5月12日下午,电信学院“与大师面对面”名师讲坛活动在九教东101顺利举行。本次论坛我们荣幸地邀请到美国中佛罗里达大学Juin J. Liou教授,为同学们作了主题为“Outlook and Challenges of Electrostatic Discharge (ESD) Protection of Modern and Future Integrated Circuits”的精彩报告。
 
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Juin J. Liou教授首先先介绍了“静电”是什么和如何产生的通过日常生活中的静电现象,深入浅出地引出了集成电路中的静电现象、其对电路中核心芯片的严重危害和电路静电保护的重要性。接着,他介绍静电保护的概念及相关方法。在介绍芯片静电测试的程序设备和其科研小组在静电保护方面的研究案例时,通过如汽车电子芯片的静电保护和晶片与核心芯片分开的静电保护等案例,使在场师生更具体、深刻、直观地了解了芯片静电保护的各种方法。最后,Juin J. Liou教授做了一个完美总结,使同学再次加深对静电保护的认识。
 
Juin J. Liou教授在1982年,1983年和1987年分别获得了佛罗里达大学的电气工程专业的荣誉学士学位、硕士学位和博士学位。1987年,他加入了中佛罗里达大学(UCF)的电气工程和计算机系,现任中佛罗里达大学工学院副院长,为学校最高荣誉的飞马杰出教授。他长期致力于半导体器件建模和集成电路静电保护(Electro-Static Discharge: ESD)的研究,是国际上ESD领域的权威之一,现为长江学者讲座教授,国家千人计划引进外籍专家。由于对半导体器件的科学研究及学术交流的突出贡献,他被评为Institute of Electrical and Electronic Engineers (IEEE) Fellow, Institute of Engineering Technology (IET) Fellow、Analog Devices (ADI) Fellow, Singapore Institute of Manufacturing Technology (SIMTech) Fellow, 获得了IEEE杰出成就奖、杰出教育奖、杰出讲座等和美国政府杰出青年科学家奖等10多项奖。
 
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